BA 100——x射線膜厚儀主要用于鍍層或涂層厚度的測(cè)量，而且特別適合于對(duì)微細(xì)表面積或超薄鍍層的測(cè)量。無(wú)數(shù)次的發(fā)明,包括使用DCM自動(dòng)對(duì)焦方法和透明的準(zhǔn)值器，操作簡(jiǎn)單。不用調(diào)校。X-射線管的距離也可測(cè)量，操作人員只需要調(diào)校樣品焦距便可以測(cè)量。
即使是微小的電子元器件或印刷線路板上的鍍層系統(tǒng)也可以高精度地分析。

BA 100——x射線膜厚儀儀器優(yōu)勢(shì)有：
★ 符合ISO3497標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：金屬鍍層——X射線光譜法測(cè)量鍍層厚度 
★ 符合ASTM B568標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試方法：X射線光譜儀測(cè)量鍍層厚度，包括金屬和部分非金屬鍍層 
★ 至多同時(shí)分析25種元素 
★ 經(jīng)實(shí)踐驗(yàn)證、堅(jiān)固、耐用的設(shè)計(jì)，可在絕大多數(shù)嚴(yán)苛的工業(yè)條件下使用。
★ 空間占用小，節(jié)約寶貴的工作臺(tái)空間，也可近產(chǎn)線放置。
★ 計(jì)算機(jī)提供USB和以太網(wǎng)接口用于連接打印機(jī)、光驅(qū)和網(wǎng)絡(luò)。