Si-PIN 探測(cè)器

Si-PIN是高性能的探測(cè)器，特別為X射線熒光儀器設(shè)計(jì)。干凈的背景加上高峰背比使檢測(cè)下限更低，并能通過不標(biāo)準(zhǔn)的校準(zhǔn)方法得到精確結(jié)果。PIN結(jié)構(gòu)使電荷收集效率提高，產(chǎn)生對(duì)稱的高斯譜峰，沒有低能量拖尾。使用牛津儀器的Si-PIN就不用延長(zhǎng)時(shí)間來加以辨別。

電子學(xué)應(yīng)用

• 高性能前置放大器
• 高性能整形放大器。根據(jù)應(yīng)用選擇脈沖處理參數(shù)。
• 探頭和前置放大器的定制包

主要特征

• 高分辨率Si-PIN探頭
• 珀耳帖冷卻晶體和FET
• 晶體管低噪音重置
• 高質(zhì)量密封包裝
• 膠囊狀大小便于密封測(cè)量
• 有3個(gè)不同晶體大小
• 高峰背比
• 清晰的背景
• 對(duì)稱的高斯峰

其他應(yīng)用范圍

• OEM儀器
• X射線熒光分析儀器
• 便攜式或臺(tái)式儀
• 室內(nèi)或室外實(shí)驗(yàn)或加工