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日立高新動態(tài)熱機械分析儀DMA7100，是通過使固體樣品發(fā)生彎曲、拉伸、剪切等形變，根據(jù)其變化量及反應(yīng)滯后時間來測定樣品的彈性率及tanδ。此款設(shè)備能夠以高靈敏...

日立高新熱重-差熱同步熱分析儀 熱重-差熱同步熱分析儀（TG/DTA）產(chǎn)品群的zui高性能機型。高靈敏度的水平差動式天平設(shè)計及*的數(shù)字化控制技術(shù)，使得TG基線的...

日立高新大型掃描電鏡SU3900上市時間：2019年4月此次發(fā)售的“SU3800"與“SU3900"，支持超大/超重樣品的觀察，特別是大型掃描電鏡“SU3900...

“日立高新新型臺式掃描電鏡TM4000"和“TM4000Plus"可簡化從樣品觀察、圖像確認到生成報告等一系列操作過程，大幅提高了工作效率。還標配了報告生成功能...

此次推出的日立高新熱場發(fā)射掃描電鏡SU7000采用全新設(shè)計的探測器，使得對二次電子信號、背散射電子信號的檢測以及分離能力大大提升。以前我們要根據(jù)不同的觀察信號來...

日立高新中型掃描電鏡SU3800同時操作性能也得到了全面升級。樣品安裝完成后，通過自動光路調(diào)整及各種自動功能調(diào)整圖像，隨后可立即獲得樣品圖像，真正實現(xiàn)了快速觀察...

日立高新掃描電子顯微鏡S-3700N適合用于研究大件，較重，較高的樣品?！鴝ui大樣品直徑達300mm?！捎^察范圍直徑達203mm?！蓪Ω哌_110mm的樣品...

日立高新掃描電子顯微鏡FlexSEM 1000日立*公司于2016年4月15日在發(fā)布了新型掃描電子顯微鏡——FlexSEM 1000。該產(chǎn)品結(jié)構(gòu)緊湊，占地面積小...

日立高新高畫質(zhì)的鎢燈絲掃描電鏡SU3500, 圖象質(zhì)量更進一步。通過高畫質(zhì)提升掃描電鏡的分析能力和操作性, 凝聚日立*科技“*"。日立高新掃描電子顯微鏡SU35...

日立高新熱場式場發(fā)射掃描電鏡SU5000，搭載了全新的用戶界面和“EM Wizard“，無論用戶的操作技巧是否嫻熟都可以拍出好的照片。掃描電子顯微鏡在納米技術(shù)領(lǐng)...

日立高新場發(fā)射掃描電子顯微鏡Regulus8200“Regulus系列“是日立*的FE-SEM的全新品牌，包括作為SU8010的后續(xù)機型開發(fā)的 “Regulus...

日立高新超高分辨率場發(fā)射掃描電子顯微鏡SU9000是專門為電子束敏感樣品和需zui大300萬倍穩(wěn)定觀察的*半導(dǎo)體器件，高分辨成像所設(shè)計。新的電子槍和電子光學(xué)設(shè)計...

日立高新球差校正透射電鏡HF5000，具有高穩(wěn)定冷場發(fā)射電子槍，自動球差校正器，可一鍵操作實現(xiàn)自動球差校正，HAADF-STEM分辨率可以達到0.78埃；可配置...

日立高新場發(fā)射透射電子顯微鏡 HF-3300日立的冷場發(fā)射電子源和300 kV加速電壓技術(shù)共同打造了超高分辨率成像和高靈敏度分析功能。雙棱鏡全息技術(shù)，空間分辨電...

日立高新球差校正掃描透射電子顯微鏡掃描透射顯微鏡HD-2700，配備了與德國CEOS GmbH公司（總經(jīng)理Max Haider先生）共同開發(fā)的球差校正儀，顯著提...

日立高新透射電鏡120kV HT7800日立新一代全數(shù)字化120kV透射電子顯微鏡HT7800，屬于日立瑠璃系列產(chǎn)品Ruli TEM，操作的一體化和自動化程度都...

在精細加工技術(shù)已進入到亞納米級水平的半導(dǎo)體，*材料的研發(fā)領(lǐng)域，原子分辨率電子顯微鏡正在成為日益重要的，*的工具。為了滿足這種需求，日立*公司研發(fā)出了日立高新高分...

日立高新通用多功能原子力顯微鏡5100N除了激光檢測方式之外，全新的「自檢測懸臂」，在保證高分辨表面形貌觀察的同時，大大簡化了AFM懸臂操作。

日立高新環(huán)境多功能原子力顯微鏡5300E是一款環(huán)境型原子力顯微鏡，它的環(huán)境控制單元可以使樣品在大氣中、真空中、溶液中等環(huán)境中進行測量。AFM5300E還具有高低...

日立高新全自動型原子力顯微鏡5500M是操作性和測量精度大幅提高，配備4英寸自動馬達臺的全自動型原子力顯微鏡。設(shè)備在懸臂更換，激光對中，測試參數(shù)設(shè)置等環(huán)節(jié)上提供...