Phasics公司基于創(chuàng)新的高分辨率波前傳感技術(shù)，提供了all-round的測量和成像解決方案。產(chǎn)品能夠滿足了激光工程師，鏡片制造商和細(xì)胞生物學(xué)家的需求。相位解決方案全部基于*的patent技術(shù)，即四波橫向剪切干涉儀。這項技術(shù)的開發(fā)克服了Shack Hartmann的局限性，并且提供超高分辨率（高達(dá)400×300個測量點），高靈敏度和大動態(tài)范圍。此外，由于其直接設(shè)置而無需中繼透鏡，因此它體型緊湊小巧，能夠消色差且易于使用。

其相變測試能力在波前測量和四波橫向剪切干涉儀分析中均處于leading position。對于每種應(yīng)用，專家級軟件包均提供完整且相關(guān)的分析，以充分利用高分辨率波前測量。Phasics著眼于客戶，著眼于滿足所有需求；其強大的研發(fā)團隊不斷開發(fā)創(chuàng)新功能，并根據(jù)客戶要求定制標(biāo)準(zhǔn)配置。

法國Phasics SID4 波前傳感器系列在激光參數(shù)測試上的應(yīng)用（作為光斑分析儀）：

Phasics波前傳感器可同時提供高分辨率的相位圖和強度圖。 它與SID4軟件結(jié)合使用，可以對激光束進行完整的參數(shù)測試報告：波前像差，激光束參數(shù)，光束輪廓，M2光束質(zhì)量參數(shù)等等參數(shù)。其緊湊的設(shè)計可以直接定位在激光光束的任何位置，因此它可以直接測量發(fā)散光束。緊湊且易于對準(zhǔn)，無中繼透鏡的發(fā)散光束測量，光束輪廓。

對于大功率激光工程師

-設(shè)計并保證的激光參數(shù)質(zhì)量

-實驗前檢查激光

對于激光制造商：

-在研發(fā)或生產(chǎn)中進行快速全面的光束質(zhì)量控制（包括M2）

-SID4可用于400nm-1000nm 的激光的波前像差，強度分布，波前位相、澤尼克參數(shù), 激光的M2值等參數(shù)進行實時的測量及參數(shù)輸出。

適用于任何激光器

-連續(xù)到脈沖激光器

-UV到遠(yuǎn)紅外

-寬帶激光器，例如OPO激光器，飛秒激光器

法國Phasics SID4 波前相差儀特點：

-全光束特征(具有高分辨率的相位+強度)包括：像差（Zernike，Legendre),PSF，斯特列爾比，環(huán)繞能量,光束輪廓

-符合ISO 11146標(biāo)準(zhǔn)的M2測量：一次性測得;適用于任何激光，包括飛秒激光.

-在激光的任何點均進行全面測試：緊湊且易于對準(zhǔn)，無需中繼透鏡即可進行發(fā)散光束測量，光束輪廓

-圓形或矩形瞳孔，多通道測試，傾斜光束

法國Phasics SID4 Element，SID4Bio，SID4-sC8波前分析儀在成像上的應(yīng)用：

Phasics引入了光學(xué)顯微鏡的新形式：定量相位成像（QPI）。該解決方案包括一個類似于照相機的儀器，該儀器可與所有標(biāo)準(zhǔn)顯微鏡兼容，并具有適合許多應(yīng)用的全面軟件套件。主要的原理是：每個樣本在光傳播時都會在光路上產(chǎn)生延遲。該延遲量（相移或光程差）可通過相位技術(shù)測量，由此此獲得圖像，對于該圖像，每個像素值是所測量的局部相移。像素值與物理厚度和樣本局部折射率有關(guān)。

生命科學(xué)：細(xì)胞學(xué)，無單細(xì)胞成像，組織學(xué)等方面。 它可以輕松地對標(biāo)本（例如活細(xì)胞，組織或任何其他半透明標(biāo)本）進行無標(biāo)簽成像。 它提供了無偽影的定量相圖像，可精確測量有價值的參數(shù)：形態(tài)，干重，單個細(xì)胞的密度……它適用于癌癥和干細(xì)胞研究，藥物篩查，血液檢查……智能儀器只需插入任何光學(xué)儀器即可。易于多模態(tài)的設(shè)置，例如相熒光組合。

熱成像：Phasics提出的使用四波剪切干涉儀（TIQSI）解決方案的熱成像技術(shù)使用高分辨率波前傳感器，該傳感器與任何具有自然寬帶照明條件的顯微鏡兼容，并帶有任何附加的激光模塊。熱成像顯微鏡技術(shù)可以研究細(xì)胞生物學(xué)，物理學(xué)和化學(xué)領(lǐng)域的各種應(yīng)用。所使用的熱成像技術(shù)是菲涅耳研究所（G. Baffou）博士與Phasics SA合作開發(fā)的一種非侵入式熱顯微鏡技術(shù)，能夠?qū)⒄彰骷{米結(jié)構(gòu)產(chǎn)生的熱量表征為納米級。TIQSI基于對已知介質(zhì)的熱誘導(dǎo)折射率變化的測量，該測量是通過波前測量將其轉(zhuǎn)換為溫度變化值。

材料檢查：折射率分析，波導(dǎo)測量，表面檢查，LIDT評估等等方面。定量相位成像（QPI）技術(shù)非常適合用作半透明樣品的折射率測量，具有準(zhǔn)確且無損的優(yōu)勢。 QPI技術(shù)可以在半透。明樣品（例如玻璃）中提供具有亞納米級精度的波導(dǎo)的精確折射率分布。對于LIDT技術(shù)，目標(biāo)是檢測材料表面特征中激光引起的變化。 QWSLI技術(shù)的優(yōu)勢在于可以進行原位表面分析。

法國Phasics Kaleo MTF測試儀在透鏡質(zhì)量控制以及光學(xué)表面測試的應(yīng)用：

Phasics提供了*的鏡頭測量原理,無需中繼透鏡即可直接測量波前。利用使用光傳播理論進行計算：提供波前像差和MTF。不使用目標(biāo)就可以在任何頻率下獲得MTF。僅一次波前采集便可提供完整的鏡頭質(zhì)量參數(shù)：適用于任何頻率和方位的MTF（調(diào)制傳遞函數(shù)），TWE（傳輸?shù)牟ㄇ罢`差）和像差（Zernike系數(shù)）的測試，可同時設(shè)置的多個波長進行測試。擁有嚴(yán)格的MTF和TWE的離軸波前分析，并且可以在測量平面上與Zemax設(shè)計的比較。

總結(jié)：波前探測主要是測量光束的相位變化，利用干涉的原理，得到干涉的圖樣對所測量的物體進行無損探測。可探測激光光束的所有參數(shù)，應(yīng)用于成像方面：可用來做細(xì)胞組織的無熒光標(biāo)記成像，可用于熱成像以及材料的檢查。此外還可以用于光學(xué)透鏡質(zhì)量控制，光學(xué)表面測試。